中文会议: 仪器仪表学报/2002.5增刊
会议日期: 2003-03-29
会议地点: 北京
主办单位: 中国仪器仪表学会
出版日期: 2003-03-01
出版地: 北京
机构地区: 南开大学
出 处: 《中国仪器仪表学会第六次全国会员代表大会暨学术会议》
摘 要: 灰度图像边缘检测的精度受到CCD摄像机的采样频率的限制.且CCD为一衍射受限系统,灰度图像的边缘变得模糊.因此,亚像素精度的算法在高精度的边缘检测中受到重视.在此,首先对样条插值法和最小二乘法进行比较和分析,得出了用样条插值法进行边缘检测的合理性,将该算法应用于集在块引脚的边缘检测,实验表明,该算法的重复性很好.分辨率可以达到四十分之一个像素,能够达到工业检测的标准.
关 键 词: 样条插值法 集成块 亚像素 最小二乘法 引脚 边缘检测
领 域: [电子电信]