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ITO透明导电薄膜的低温直流磁控反应溅射

中文会议: 材料研究与应用新进展(上卷)

会议日期: 1998-12-20

会议地点: 北京

主办单位: 中国材料研究会

出版方 : 化学工业出版社

出版日期: 1998-11-30

出版地: 北京

作  者: ; ; ;

机构地区: 中国科学院金属研究所

出  处: 《1998年中国材料研讨会》

摘  要: 该文利用直流磁控反应溅射铟锡合金靶在未加热的聚脂膜、玻璃和硅衬底上制备了ITO透明导电薄膜。研究了氧分压和沉积时间对薄膜结构和电光特性的影响。结果表明,不同衬底上的ITO薄膜均出现晶格膨胀;在相同条件下聚脂膜上制备的ITO薄膜电阻率远小于在玻璃和硅衬底上薄膜的电阻率,且对应低电阻率的反应窗口拓宽,其最低电阻率可达到4.23×10〈’-4〉Ω.cm。聚脂膜上可见光区(550nm)的透射率可达80℅,而在玻璃上则可达88℅以上。

关 键 词: 磁控溅射 导电薄膜 透明导电薄膜

分 类 号: [TB3 TM24]

领  域: [一般工业技术] [电气工程] [一般工业技术]

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