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文献详细Journal detailed

影响软X射线层析成像分辨率的若干因素分析

中文会议: 光子学报2002第31卷第22期

会议日期: 2002-08-01

会议地点: 四川绵阳

主办单位: 中国光学学会

作  者: ; ; ; ;

机构地区: 中国科学院上海光学精密机械研究所

出  处: 《第四届全国光学学术会议》

摘  要: 本文讨论了影响软X射线层析成像分辨率的各种因素,着重分析了各种实验条件对其的影响,比如光源的尺寸、样品的尺寸、记录光路方式、探测器的分辨率、投影数据的完整性等.并相应于这些影响因素,提出了一些对应的措施,来提高软X射线层析成像分辨率.

关 键 词: 射线层析技术 水窗 波段 直边衍射 重建算法 成像 分辨率

分 类 号: [O4]

领  域: [理学]

相关作者

作者 孟耀勇

相关机构对象

机构 华南师范大学计算机学院计算机科学系

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