中文会议： 光学精密工程

会议日期： 2004-07-01

会议地点： 重庆

主办单位： 中国仪器仪表学会

作　　者： ; ; ; ; ;

机构地区： 重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室

出　　处： 《2004第四届精密工程学术研讨会》

摘　　要： 根据椭圆几何光学和X射线晶体的布拉格衍射原理,进行了弯晶谱仪的光学设计.设计的椭圆离心率和焦距分别是0.9586mm和1350mm,椭圆的弧长是125.64mm,光路的光程为1443.30mm;布拉格衍射角为30～67.5°,谱线探测角为55.4～134°;柱面镜的掠入射角为3.7°,半径为10127mm;谱线探测器的阴极面中心到狭缝的距离是35mm.利用LiF、PET、MiCa和KAP晶体作色散元件,测量的波长范围是0.20～2.46nm,晶体的尺寸是125mm×8mm×0.2mm.此外,将两个弯晶进行上下对称交叉和前后错开布置,减小了谱仪的尺寸和减轻了它的重量.

关 键 词： 光学设计 弯晶谱仪 激光等离子体 射线光谱

领　　域： [机械工程]