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CeO2(111)表面氧空缺的扩散机理的密度泛函研究

中文会议: 第十一届全国青年催化学术会议论文集

会议日期: 2007-08-19

会议地点: 青岛

主办单位: 中国化学会

作  者: ; ; ; ; ; ;

机构地区: 华东理工大学化学与分子工程学院结构可控先进功能材料及其制备教育部重点实验室

出  处: 《第十一届全国青年催化学术会议》

摘  要: CeO2材料具有独特的储放氧性能,在工业催化中有着广泛应用。在实际反应中,活性位附近的氧被消耗掉后形成氧空缺,通过氧空缺的扩散,远处和体相的氧可以迁移补充到活性位附近。近年来,理论计算研究了CeO2体相空缺的迁移机理然而,对于氧缺陷在表面的扩散机理,目前仍然不是很明确。因此,本文中我们有采用密度泛函理论计算研究了CeO2(111)表面氧空缺的扩散,并进一步探讨CEO24f道特性与空缺扩散之间的联系,以及CeO2具有储放氧性能的本质原因。

关 键 词: 材料 表面氧空缺 空缺扩散 密度泛函理论 工业催化 储放氧性能

分 类 号: [TQ]

领  域: [化学工程]

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相关机构对象

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