中文会议：
第十二届全国可靠性物理学术讨论会论文汇编
会议日期：
2007-10-01
会议地点：
四川都江堰
主办单位：
中国电子学会
作 者：
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机构地区：
信息产业部电子第五研究所
出 处：
《第十二届全国可靠性物理学术讨论会》
摘 要：
本文介绍了SiGe异质结双极晶体管的特点及其失效机理,并讨论了SiGe HBT晶体管纵向及横向结构参数的设计,并对加速寿命试验中发生失效的SiGe HBT进行失效分析。
关 键 词：
晶体管
异质结晶体管
失效机理
结构参数
加速寿命试验
分 类 号：
[TN]
领 域：
[电子电信]
