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文献详细Journal detailed

密度对Cu-25W触头材料抗电弧侵蚀性能的影响

中文会议: 2011中国材料研讨会论文摘要集

会议日期: 2011-05-17

会议地点: 北京

出版方 : 中国材料研究学会

作  者: ; ; ; ;

机构地区: 华南理工大学

出  处: 《2011中国材料研讨会》

摘  要: <正>开关器件在接通和关断瞬间会产生电弧,在电弧作用下触头材料产生局部过热,从而导致材料的蒸发和喷溅,引起电弧侵蚀,该过程对触头寿命的影响至关重要。现有的技术虽然可以制备出致密的触头材料,但在使用过程中,由于电弧侵蚀,开裂等原因,材

分 类 号: [TM24]

领  域: [电气工程] [一般工业技术]

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