中文会议： 2007’第十二届全国可靠性物理学术讨论会论文集

会议地点： 四川都江堰

出版方 ： 中国电子学会可靠性分会、中国电子学会电子元件分会、中国电子学会半导体与集成技术分会、中国电子学会电子材料分会、广东省电子学会

作　　者： ; (黄云）; (李斌）;

机构地区： 华南理工大学理学院

出　　处： 《2007’第十二届全国可靠性物理学术讨论会》

摘　　要： 本文介绍了 PHEMT 器件的结构,界面态对 PHEMT 器件影响的现象和机理,并主要从直流特性,击穿电压和栅延时等方面研究界面态对 PHEMT 器件的影响,最后针对界面态总结了界面态分析方法,包括：通过沟道峰值电场和碰撞电高率来研究界面态密度；二维量子模型模拟法；根据跨导随频率变化来测量界面态密度法．

关 键 词： 界面态 界面态分析

领　　域： [电子电信]