导　　师： 高岳

学科专业： H03

授予学位： 硕士

作　　者： ;

机构地区： 北京理工大学

摘　　要： 该文介绍一种以计算机为核心的光纤面板斑点自动测量系统.经积分球形成的漫射光照射光纤面板,由显微镜将光纤面板透光情况放大后成像在面阵ccd上,经图像采集卡转变成数字图像后,存储在计算机中.由于显微镜视场相对光纤面板面积太小,需使用精密移动平台带动光纤面板实现遍历采集,然后将分块采集的图像拼接在一起,通过编写程序对图像进行处理获得斑点的几何参数并进行统计.程序用visualc++编写. 该文描述了该测量系统的系统结构和软件功能.介绍了光纤面板斑点测量标准、成像系统组件的选择方法和ccd的特性.论证了二维精密移动平台用于图像拼接的可行性.介绍了面向对象的位图图像编程方法和一些图像处理的算法.通过实验验证了软件系统的功能.

关 键 词： 光纤面板 斑点测量 图像处理 特性

分 类 号： [O431]

领　　域： [机械工程] [理学] [理学]