作　　者： ; ;

机构地区： 广州大学环境科学与工程学院环境科学系

出　　处： 《分析测试学报》 2004年第1期39-41,共3页

摘　　要： 将程序升温 -漫反射红外光谱用于表征磷酸硅铝分子筛SAPO_34表面酸性质 ;结果表明 ,SAPO_34分子筛中的桥联羟基Si—OH—Al具有较强的热稳定性 ;结合NH3 探针考察表明 ,SAPO_34分子筛具有B酸和L酸两种酸中心 ,其中B酸较强 ,是SAPO_34酸性的主要部分 ,而L酸中心较弱。 The character of surface acidity of SAPO-34molecular sieve was investigated by a newin-situ technique,the programmed temperature-diffuse reflectance infrared Fourier transform spectroscopy(DRIFTS).The results showthat the bridged Si—OH—Al groups in SAPO-34have higher heat stability(873K).This method coupled with NH 3 molecular probes indicates that SAPO-34has both Br⒐nsted and Lewis acidic centers.It was found that the Bronsted acidic center is stronger than the Lewis acidic center and is the main source of the acidity of molecular sieve.

关 键 词： 磷酸硅铝分子筛 分子筛 羟基 酸性 程序升温 漫反射红外光谱 原位表征技术 酸中心 酸中心

领　　域： [理学] [理学]