作　　者： ; ; ; ; ; ;

机构地区： 中山大学物理科学与工程技术学院光电材料与技术国家重点实验室

出　　处： 《光学学报》 2004年第1期99-103,共5页

摘　　要： 介绍了一种基于衍射光栅干涉和CCD图像测量的测量透明材料折射率的方法。这种方法使用的仪器少 ,操作简单 ,配合CCD与图像处理的运用 ,尝试的两种测量方案都使精度能够达到 10 -4。两种测量方案对同一玻璃基片的测量结果基本吻合 ,而第二种测量方案的测量精度要优于第一种 ,这是因为就我们目前的实验条件而言 ,CCD判别条纹移动的精度对折射率测量的影响要小于角度测量精度对之的影响。该方法还可以测量各向同性透明薄膜样品的折射率 ,为探索新型有机薄膜的折射率及其有关特性提供便利的手段。讨论了测量的基本原理和样品的测量结果 ,并对实验方法误差进行了分析。 An experimental method for the refraction index measurement of transparent materials is described,based on the interference of expanded and collimated laser beams that are diffracted by a grating. The interference pattern is captured by a CCD camera,and processed with a home-made software. The optical arrangement is simple and easy to manipulate. The precision of the refraction index measurement is of the order of 10 -4 . Two ways have been provided to carry out the measurements,the second seems to be better in our case,and the angle measurement accuracy is more important than fringe movement positioning. Its application to isotropic polymeric thin film is also presented.

关 键 词： 衍射光栅 光学测量 折射率 透明材料 干涉 衍射 图像测量 转角 光程改变量

领　　域： [机械工程] [机械工程] [机械工程] [机械工程] [理学] [理学]