可检索词： （英文）题名=T 作者=A 关键词=K 摘要=R 机构=O 主题=S 刊名=M 分类号=N
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中图分类号： 选择
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机构地区： 暨南大学
出 处： 《应用概率统计》 1996年第3期
摘 要： 本文运用计数过程技术,给出了多状态寿命表的平均逗留时间的一个估计及其方差估计,讨论了这些估计量的均匀相合性与弱收敛性。
关 键 词： 链 多状态寿命表 平均逗留时间 计数过程 均匀相合性 弱收敛性
分 类 号： [O212]
领 域： [理学] [理学]
