作　　者： ; ; ; ;

机构地区： 广州出入境检验检疫局

出　　处： 《科学技术与工程》 2003年第6期528-532,共5页

摘　　要： 以英国进口的纯铜标准样品制作工作曲线,采用专用的空白标样和多点多项式方法计算峰底背景。用干扰曲线法进行基体效应和谱线重叠干扰的校正,部分重金属痕量元素选择高反射率的人工晶体PX—9来测定。开发了用x射线荧光光谱测定纯铜样品中18个痕量杂质元素的方法。其分析结果与直读光谱删定值基本相符,回收率在95％～105％范围,各元素的相对标准偏差RSD均小于5.0％ A X-ray fluorescence spectrometric method was developed for the determination of Si, P, S, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Zn, As, Se, Ag, Cd, Sn, Sb, Te, Pb and Bi in pure copper. The interelement absorption and enhancement effects are corrected by using interfering curve method and Rh K α line Compton scattering radiation as internal standard. Heavy metal trace elements are tested with artificial crystal PX—9. The precision and accuracy of the XRF method are excellent as coppared with the spark spectrometry and the classical chemical method. The method is used to measure some actual samples with satisfactory results, and the of RSD is smaller 5.0%.

关 键 词： 射线荧光光谱 测定 纯铜 痕量杂质元素 基体效应校正 理论 系数 干扰曲线法

领　　域： [理学] [理学] [理学] [理学]