作　　者： ; ; ; ; ; ; ; ;

机构地区： 南京大学物理学院物理学系

出　　处： 《Journal of Semiconductors》 2003年第11期1171-1175,共5页

摘　　要： 在氢化物气相外延 (HVPE)生长 Ga N过程中 ,发现了一种在成核阶段向生长区添加额外 HCl来改善 Ga N外延薄膜质量的方法 ,并且讨论了额外 HCl和氮化对 Ga N形貌和质量的影响 .两种方法都可以大幅度地改善 Ga N的晶体质量和性质 ,但机理不同 .氮化是通过在衬底表面形成 Al N小岛 ,促进了衬底表面的成核和薄膜的融合 ;而添加额外 A new way to improve the quality and reproducibility of GaN film in hydride vapor phase epitaxy (HVPE) system is reported by introducing the additional HCl to the growth surface in the initial step of nucleation.In addition,substrate nitridation is often used in the growth technique of GaN.The effect of additional HCl and nitridation on the optical properties,structure and surface morphology of HVPE GaN films is studied.The results show that the quality of HVPE GaN films is improved in deed.But probably they have different formation mechanism on the growth of GaN films.

关 键 词： 氢化物气相外延 氮化 额外

领　　域： [电子电信]