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LD波长漂移检测及窄带滤光片的优化选择
Detection of LD Wavelength Shift and Optimal Selection of Thin Film Filter

作  者: ; ; ; ; ;

机构地区: 华中科技大学光电子科学与工程学院光电子工程系

出  处: 《半导体光电》 2003年第2期113-116,共4页

摘  要:  对半导体激光器波长(频率)漂移的检测原理进行了分析,用计算机仿真分析出波长锁定的最佳区域。通过对波长漂移检测灵敏区域的界定和捕捉范围的选择,确定鉴频F P窄带滤光片的参数,提出波长锁定器光路优化的方法。 The theory of semiconductor laser wavelength(frequency) shift is analyzed. The optimal region for wavelength(frequency) lock was selected by means of computer simulation. The parameters of FP thin film filter were obtained in terms of the limitation of the optimal region for wavelength(frequency) shift and the selection of capture range. A consideration to optimize optical design of wavelength locker is proposed.

关 键 词: 半导体激光器 波长漂移 窄带滤光片 计算机仿真 波长锁定

领  域: [电子电信]

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