作　　者： ; ;

机构地区： 中国石油大学华东数学与计算科学学院应用物理系

出　　处： 《石油大学学报（自然科学版）》 2003年第1期116-118,125,共4页

摘　　要： 采用磁控溅射法 ,在玻璃基片上制备了一系列不同Ni79Fe2 1含量的 (Ni79Fe2 1) x(Al2 O3 ) 1-xM I型纳米颗粒膜。测量并分析了电阻率与体积分数的关系 ,得出该颗粒膜的体积分数逾渗阈值大约为 0 .5 1。分别用 4种方法验证了M I型纳米颗粒膜的逾渗阈值。 A series of (Ni 79Fe 21) x(Al 2O 3) 1-x M-I nano-granular films were fabricated on the glass substrates with magneto sputtering technique. The relations between the volume fraction of the magneto metal and resistivity were analyzed. The percolation threshold of the film was determined. Four methods were used to verify the percolation threshold. Experimental results show that the determined threshold is exact.

关 键 词： 磁控溅射法 型纳米颗粒膜 逾渗阈值

领　　域： [理学] [理学]