作　　者： ; ; ; ; ; ; ;

机构地区： 中国科学院上海光学精密机械研究所

出　　处： 《中国激光》 2003年第2期167-170,共4页

摘　　要： 提出一种简便的新方法用以实现X射线平晶谱仪谱线波长的直接标定 ,只需在谱仪晶体表面加上一个特制的辅助光阑 ,即可在不知光源位置和没有任何参考谱线的情况下精确标定谱线的波长。 A novel method of measuring absolute X-ray wavelengths using an auxiliary diaphragm attached to the planar crystal is proposed, which can accurately determine wavelengths without any reference line and any information or special position.

关 键 词： 谱线波长 直接标定 平晶谱仪 射线光谱学 激光等离子体

领　　域： [机械工程] [机械工程] [机械工程]