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高斯光束入射折射率失配对共焦显微术的影响
Influence of Refractive Index Mismatch on a Confocal Microscopy with Gaussion Planar Wave Incidence

作  者: ; ; ; ; ;

机构地区: 南开大学电子信息与光学工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室

出  处: 《光电子.激光》 2003年第1期90-94,共5页

摘  要: 采用光的矢量衍射理论 ,研究了场振幅为高斯分布的平面波入射到无球差高数值孔径物镜上 ,折射率失配对共焦显微术的影响 ,并进行数值模拟。结果表明 ,在折射率失配情况下 ,点扩散函数在 xz平面上的分布相对于焦平面不再为对称分布 ,同时出现焦点漂移、半高宽变宽的现象。 We considered intensity distribution of light focused by a high numerical aperture lens without spherical aberration through a planar interface between materials of mismatch refractive index.Amplitude distribution of incident light in lateral plane takes a Gaussian form.Intensity distributions in the focal region are numerically evaluated as a function of probe depth.The results show that intensity distributions in the xz plane are not symmetrical about the focal plane,and focus shift increases and full width of half maximum becomes larger when probe depth increases.

关 键 词: 共焦显微术 高数值孔径 折射率失配 控测深度 焦点漂移 半高宽

领  域: [机械工程] [机械工程] [机械工程]

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