作　　者： ; ; ; (李晶）; (张荣君）; (杨月梅）; (郑玉祥）; (赵海斌）; (陈良尧）; (郑荣儿）; (陆继东）; (姚顺春）;

机构地区： 复旦大学信息科学与工程学院光科学与工程系

出　　处： 《分析仪器》 2012年第2期

摘　　要： 宽光谱、高分辨、高速光谱获取和分析技术在光电子材料、太阳能、化学、生物医学、环境、国防等领域具有重要的研究意义和应用价值,是现代光谱分析仪器的核心。为了实现宽光谱、高分辨率和快速的光谱测量和分析,在本研究中,突破传统单光栅和棱镜等色散元件有限色散角和光谱效率的限制,采用二维CCD面阵光电探测技术,将具有不同闪耀角和色散特性的10光栅进行集成组合,在200～1000nm光谱区,获得10重折叠光谱,成像在CCD面阵探测器的焦平面上,从而将光谱的有效探测区长度扩展了10倍,达到268mm。经系统定标后,测量结果显示,无需任何机械位移部件,新的光谱分析系统可达到优于0.1nm的分辨率,能够在0.1s时间内完成200～1000nm全光谱数据的快速获取和分析,将能够在科学研究和高科技领域获得重要应用,体现了高性能光谱分析技术研究和发展的趋势。

关 键 词： 二维 面阵探测技术 重折叠光谱 有效探测区 发展趋势

分 类 号： [TH744.1]

领　　域： [机械工程] [机械工程] [机械工程]