作　　者： ; ;

机构地区： 中山大学

出　　处： 《中国核科技报告》 1995年第S2期80-80,共1页

摘　　要： 基于热释光事件发生经历一个复杂的多阶段的过程和电离辐射与介质相互作用事件的随机性,并考虑到热释光材料中掺入的杂质所决定的电子陷阱和空穴陷阱的空间分布、电离辐射在介质中能量沉积的空间分布以及与加热温度相关的载流子漂移均直接影响热释光事件的产生,从统计学泊松分布导出一个一次作用和二次作用复合的热释光剂量响应函数,

关 键 词： 热释光 剂量响应 电离辐射 空间分布 响应函数 能量沉积 电子陷阱 泊松分布 空穴陷阱 加热温度

领　　域： [核科学技术]