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文献详细Journal detailed

半导体PN结温度特性实验
Experiment of temperature characteristics of PN junction

作  者: ; ;

机构地区: 五邑大学

出  处: 《实验室科学》 2012年第1期100-103,107,共5页

摘  要: 讨论了不同温度下PN结的正向压降和伏安特性的测量方法,设计了利用TH-J型PN结正向压降温度特性测试仪研究PN结正向压降及伏安特性曲线随温度变化的实验,定性分析了PN结正向压降及伏安特性随温度变化的规律;利用Excel进行曲线拟合测定了正向压降随温度变化的灵敏度、玻尔兹曼常数以及PN结的反向饱和电流,从而定量描述了PN结的伏安特性,取得了较为准确的实验结果。 The measuring means of positive voltage drop and volt-ampere characteristics of PN junction at different temperature is introduced, and the experiment of variation of positive voltage drop and volt-ampere characteristics of PN junction with temperature based on the instrument of model TH-J which is used to research the relation of PN junction forward voltage drop and temperature is designed. The response rate between positive voltage drop and temperature, Boltzmann constant and the reverse saturation current of the PN junction are measured. The positive volt-ampere characteristics of PN junction and its variation with temperature can be described quantitatively and qualitatively, and the good experiments results are reached.

关 键 词: 伏安特性 波尔兹曼常数 反向饱和电流 物理实验

领  域: [理学] [理学]

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