作　　者： ; ; ; ;

机构地区： 复旦大学物理学系

出　　处： 《物理学报》 1999年第S1期200-203,共4页

摘　　要： 研究了直流磁控溅射法制备的Ｎｉ８１Ｆｅ１９／Ｃｒ８２Ａｌ１８ 双层膜中的交换耦合．样品的室温矫顽力与１／ｔ３／２ＦＭ（ｔＦＭ为铁磁层厚度） 近似成正比例关系，从而表明在Ｎｉ８１Ｆｅ１９／Ｃｒ８２Ａｌ１８ 中交换耦合为铁磁／ 反铁磁界面的随机相互作用．另外还讨论了反铁磁层厚度对交换偏置的影响． In P y /CrAl bilayers (where P y =Ni\-\{81\}Fe\-\{19\}),the coercivity at room temperature is found to be a linear function of 1/ t 3/2 FM ,indicating the existence of random exchange interaction at the FM/AFM interface (FM=ferromagnetic,AFM=antiferromagnetic).The AFM layer thickness dependencies of the H e and H c are also studied.

关 键 词： 双层膜 交换耦合 层厚度 交换偏置 矫顽力 磁滞回线 直流磁控 超细颗粒 楔形样品 反铁磁

领　　域： [理学] [理学]