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Sm_2Fe_(14.5)Cu_(0.5)Ga_(2)C_x快淬带的磁力显微镜研究
MAGNETIC FORCE MICROSCOPE STUDY ON QUICK QUENCHED RIBBON Sm_2Fe_(14.5)Cu_(0.5)Ga_2C_x

作  者: ; ; ; ; ;

机构地区: 中国科学院物理研究所

出  处: 《物理学报》 1999年第S1期16-21,共6页

摘  要: 用磁力显微镜研究了Sm2Fe14 .5Cu0.5Ga2Cx 快淬带退火后的微结构与磁畴结构.从实验所得的形貌图和磁力图发现晶粒尺寸在25 —55 nm 之间,磁畴尺寸为200 —400 nm ,磁畴尺寸远大于晶粒尺寸.磁畴跨越许多晶粒,即出现交换作用畴结构.对磁力图的强度谱密度、最大相位移和粗糙度的分析表明,这些量与材料的内禀磁性( 如HA) 有一定的关联. The microstructure and magnetic domain structures of the annealed quick\|quenched ribbon Sm\-2Fe\-\{14.5\}Cu\-\{0.5\}Ga\-2C\- x were studied by using magnetic force microscope. The results of the topography image and magnetic force image(MFI) show that the grain size is between 25—55?nm, whereas the domain size is between 200—400?nm. The magnetic domain length scale is much larger than the grain size. The domain comprises of a lot of grains, which were called interaction domain. The detail analysis such as power spectral density analysis, the maximum phase shift and roughness analyses on the MFI demonstrated that they are connected with the intrinsic magnetic properties such as H A in some way.

关 键 词: 磁力显微镜 磁力图 快淬带 相位移 晶粒尺寸 磁畴结构 凝聚态物理 国家重点实验室 磁极化强度 原子力显微镜

领  域: [电气工程] [一般工业技术]

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