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文献详细Journal detailed

利用牛顿环干涉条纹测定薄膜厚度
The Measurement of Film Thickness Using Interfered Stripe of Newton Ring

作  者: ; ; ;

机构地区: 喀什师范学院物理系

出  处: 《长春师范学院学报(自然科学版)》 2011年第4期46-49,共4页

摘  要: 牛顿环实验是大学物理实验中的一个基本实验,目前的实验只是用于测透镜曲率半径。本文对牛顿环实验进行拓展,根据实验原理推导出两个用于测定薄膜厚度的理论公式,并对公式进行了理论分析。 As a classical experiment,Newton ring experiment is usually used in measuring the radius of curvature of a lens.For the expansion of Newton ring experiment,two formula of measuring film thickness is proved according to the experimental principle,and the formula is also discussed.

关 键 词: 牛顿环 薄膜厚度 干涉条纹

领  域: [机械工程] [理学] [理学]

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