帮助 本站公告
您现在所在的位置:网站首页 > 知识中心 > 文献详情
文献详细Journal detailed

带结构突变的面板数据单位根伪检验研究
Research on Unit Root Spurious Test for Panel Data with Structural Change

作  者: ; ; ;

机构地区: 天津大学管理与经济学部

出  处: 《商业经济与管理》 2009年第11期65-71,共7页

摘  要: 文章利用Monte Carlo模拟方法研究了带结构突变的面板数据单位根伪检验问题。研究发现,只有在突变前后样本数相差较大,或者均值突变不明显时,均值突变才不会导致传统面板单位根检验结果失效;趋势突变在绝大多数情况下将导致传统的面板数据单位根检验失效。 Spurious unit root tests for panel data with structural change are made by using Monte Carlo methods in this paper. The result shows that unit root tests for panel data with expectation shift are effective only when the number of samples varies greatly before and after the turning point or when expectation shift is not obvious; and unit root tests for panel data with variance shift are ineffective and will lead to spurious result in most cases.

关 键 词: 面板数据 结构突变 单位根 伪检验

领  域: [社会学] [经济管理]

相关作者

作者 肖智星
作者 黎昌贵
作者 鞠海龙
作者 张培林
作者 黄锦东

相关机构对象

机构 暨南大学
机构 暨南大学经济学院
机构 中山大学岭南学院
机构 中山大学
机构 广东外语外贸大学

相关领域作者

作者 张书军
作者 张建梅
作者 张恩施
作者 彭劲松
作者 徐来