作　　者： ; ; ;

机构地区： 广东工业大学信息工程学院

出　　处： 《广东工业大学学报》 2008年第4期49-51,共3页

摘　　要： 简要介绍电子散斑干涉系统的组成部分、散斑干涉原理以及离面位移测量的检测原理,并采用了最新处理光学信息的CCD测量技术,利用软件画出测试表面受力变形后的三维重构图,同时得出变形后物体在X方向和Y方向的离面位移. A brief introduction to the composition of the ESPI （ electric speckle pattern ted. It expounds the interferometry principle of Lengthways Displacement measurement, interferometry） is presengetting the 3-D lengthways displacement using CCD technology and image processing sofeware.

关 键 词： 电子散斑干涉 离面位移 测量技术 三维重构

领　　域： [电子电信]