可检索词： （英文）题名=T 作者=A 关键词=K 摘要=R 机构=O 主题=S 刊名=M 分类号=N
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机构地区： 华南师范大学
出 处： 《电子测试》 2007年第2期81-86,共6页
摘 要： 针对大规模集成电路中利用传统的探针测试方法浪费时问,不能检测IC引脚内部信号的原因。本文系统地论述了JTAG如何来解决上述问题的的方法和手段,以及JTAG的指令。
关 键 词： 寄存器 指令 标准
领 域： [电子电信]
