作　　者： ;

机构地区： 中国工程物理研究院总体工程研究所

出　　处： 《现代电子技术》 2012年第4期156-158,共3页

摘　　要： 为了研制应用于跌落试验等环境试验的存储测试系统,利用高速A/D转换芯片AD7654结合SoC片上系统C8051F340逻辑时序控制的方法来实现200KSPS采样速率的系统指标要求。AD7654是AD公司推出的一款低功耗、四通道、电荷再分布式、16位500KSPS高速A/D转换器。在此介绍了AD7654的主要特点、工作原理和逻辑时序,并为了实现并行存储测试的实际需要,设计了AD7654与SoC片上系统以及非易失性存储器的接口电路,并给出相应了相应的A/D中断服务程序。该提供的方法对类似的项目有一定参考价值。 To develop the storage testing system applied to the drop test,the high-speed AD conversion chip AD7654 is used to satisfy the system demand of 200 KSPS sampling rate,which controlled by SOC(system on chip) C8051F340.AD7654 is a low power,4-channel,charge redistribution SAR,16-bit,500 KSPS high-speed ADC produced by the Analog Device Company.The main features,operation principle,temporal logic of the AD7654 are introduced.The interface circuits of AD7654 connecting with system on chip and nonvolatile memory devices are designed.The AD interrupt service programs are produced.This method has some reference merit to similar subjects.

关 键 词： 高速 转换器 存储测试系统

领　　域： [电子电信]