可检索词： （英文）题名=T 作者=A 关键词=K 摘要=R 机构=O 主题=S 刊名=M 分类号=N
检索规则说明： [&]代表"并且"；[|]代表"或者"；[!]代表"不包含" (运算符两边不需要空格)
检索范例： 范例一：(k=科技[|]k=技术)[&]t=范并思 范例二：t=计算机应用与软件[&](R=C++[|]R=Basic)[!]t=西华师范大学
主办单位：
出版地：
ISSN：
主编：
邮发代号：
中图分类号： 选择
作 者： ; ;
机构地区： 华南理工大学理学院
出 处： 《中山大学学报论丛》 2005年第3期15-16,共2页
摘 要： 跟随当前集成电路技术的发展,在微电子专业开设课程《集成电路测试与可测性设计》,完善了学生的专业知识结构。
关 键 词： 集成电路测试可测性设计 微电子 教学研究
领 域： [文化科学] [文化科学]
