作　　者： ; ;

机构地区： 华南师范大学物理与电信工程学院

出　　处： 《重庆工商大学学报（自然科学版）》 2005年第3期268-272,共5页

摘　　要： 测试是保证电路系统可靠性的重要手段,已成为集成电路设计与生产的一个组成部分,研究了基于二元判定图的数字电路测试生成方法,对布尔函数的表示和操作的二元判定图进行研究,详细讨论了其中的ite算符;给出了基于二元判定图的电路测试生成方法的实现步骤,并用实例进行了说明。 Circuit test is an important technique to improve the reliability of digital circuits. The binary decision diagrams method for test pattern generation of digital circuits is studied in this paper. First of all, the binary decision diagram for the presentation of Boolean functions is investigated, the realizations for the logic operations of two Boolean functions are discussed in detail. Secondly, the circuit test method using binary decision diagrams is given. The implementation procedure in the test method is shown by an example.

关 键 词： 二元判定图 测试生成 数字电路 集成电路设计 生成方法 电路测试 系统可靠性 组成部分 布尔函数 实现步骤

领　　域： [电子电信] [自动化与计算机技术] [自动化与计算机技术]