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文献详细Journal detailed

基于虚拟仪器技术的混合集成电路测试系统的设计与实现
Design of the Test System for Multi-ICs Based on VI Technology

作  者: ; ; ;

机构地区: 同济大学中德学院

出  处: 《仪表技术》 2005年第2期58-59,共2页

摘  要: 设计了一种基于虚拟仪器技术的混合集成电路的性能参数自动测试系统。简要介绍了测控系统的总体设计方案和基本的硬件配置结构,详细介绍了此系统在LabWindows/CVI开发环境下的软件设计方法和功能实现。本系统充分利用GPIB总线技术和RS232总线技术,具有很好的可控性和通用性。 A kind of test system for multi-ICs based on VI technology was developed. The design scheme and the hardware configration of the testing system and the software design method in LabWindows/CVI were introduced in deteail. The adoption of GPIB and RS232 has greatly developed the control and universality of the test system.

关 键 词: 集成电路测试 虚拟仪器 总线 测试数据库

领  域: [自动化与计算机技术] [自动化与计算机技术]

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相关机构对象

机构 光电子与物理学系
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机构 华南师范大学教育信息技术学院
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