作　　者： ; ; ; (张存圭）; (连贯君）;

机构地区： 北京大学物理学院人工微结构与介观物理国家重点实验室

出　　处： 《电子显微学报》 1994年第3期208-212,共5页

摘　　要： 本研究采用电子通道技术（ＥＣＰ）对单晶和双晶外延生长的ＹＢａ＿２Ｃｕ＿３Ｏ＿７（ＹＢＣＯ）超导薄膜的结构、取向和表面完好性作检测，并证实对衬底的预处理可改善外延超导薄膜的质量；还对ＹＢＣＯ／ＣｅＯ＿２／ＭｇＯ／ＳｒＴｉＯ３的双外延薄膜作研究。 The ECP technique is used to invistigate the structure,Orientation and surface perfectness of epitaxial YBa_2Cu_3O_7(YBCO)thin films with single-crystal and bicrystal substrates.It is verified that the preprocessing of eptaxial superconductor thin films.The study forbiepitaxial thin film YBCO/CeO_2/MGO/SrTiO_3 is reported al-so。

关 键 词： 电子通道图 外延超导薄膜 电子显微镜

领　　域： [电子电信] [电子电信]