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CCD在透明材料折射率测量中的应用
Application of CCD in Measurement of Refractive Index of Transparent Materials

作  者: ; ; ; ;

机构地区: 中山大学物理科学与工程技术学院光电材料与技术国家重点实验室

出  处: 《半导体光电》 2003年第4期270-273,共4页

摘  要:  介绍了一种基于衍射光栅干涉的透明材料折射率测量方法。讨论了测量的基本原理、对CCD获取数据的处理方法和样品的测量结果。这种方法使用的仪器少,操作简单,运用CCD作为观测分析的工具,测量精度能够达到10-3量级,对测量方法进行适当的扩展,还能够用于测量透明材料的其他与折射率相关的参数。对有机聚合物热光系数的测量,理论精度能够达到10-5/℃量级。 An experimental method for the measurement of refractive index of transparent materials is described, based on the interference of expanded and collimated laser beams that are diffracted by a grating. The optical arrangement is simple and easy to manipulate.The accuracy of the refractive index measurement is of the order of 10-3 attributed to the application of a CCD. This method can be extended to measure other coefficients related to the refractive index. The theoretical accuracy of 10-5/℃ can ...

关 键 词: 衍射光栅 干涉 折射率 热光系数

领  域: [电子电信]

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